PEEK üzerine Çöktürülmüş Ti-Mg-Ag esaslı Fonksiyonel olarak Derecelendirilmiş Kaplamada Hücre-Malzeme Etkileşiminin SEM ile incelenmesi

GÜMÜŞ S., POLAT Ş., Lackner J., Waldhauser W.

23. Ulusal Elektron Mikroskopi Kongresi, Antalya, Türkiye, 19 - 21 Mayıs 2017

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Antalya
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Kocaeli Üniversitesi Adresli: Evet