Aluminyum Silisyum Alaşımlarında Derin Dağlama Tekniği ile Mikroyapısal İnceleme

KAHRIMAN F., GÜMÜŞ S., ATTİLA A., ZEREN M.

Uluslararası Katılımlı 20. Elektron Mikroskopi Kongresi, Türkiye, 25 - 28 Ekim 2011

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Kocaeli Üniversitesi Adresli: Evet