Structural characterization of aluminum induced polycrystalline silicon films


Kılıçerkan G., Candan İ. , Güllü H. H. , Turan R., Ertuğrul M.

9th Nanoscience and Nanotechnology Conference, Erzurum, Türkiye, 24 - 28 Haziran 2013

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Erzurum
  • Basıldığı Ülke: Türkiye