Structural characterization of aluminum induced polycrystalline silicon films

Kılıçerkan G., Candan İ., Güllü H. H., Turan R., Ertuğrul M.

9th Nanoscience and Nanotechnology Conference, Erzurum, Türkiye, 24 - 28 Haziran 2013

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Erzurum
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Kocaeli Üniversitesi Adresli: Hayır