Reliability assessment of CMOS differential cross-coupled LC oscillators and a novel on chip self-healing approach against aging phenomena

Afacan E., Dundar G., Baskaya F.

Microelectronics Reliability, cilt.54, sa.2, ss.397-403, 2014 (SCI-Expanded) identifier identifier

  • Yayın Türü: Makale / Özet
  • Cilt numarası: 54 Sayı: 2
  • Basım Tarihi: 2014
  • Doi Numarası: 10.1016/j.microrel.2013.08.013
  • Dergi Adı: Microelectronics Reliability
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus
  • Sayfa Sayıları: ss.397-403
  • Kocaeli Üniversitesi Adresli: Hayır