A Rare Event Based Yield Estimation Methodology for Analog Circuits

Odabaşı İ. Ç., YELTEN M. B., AFACAN E., BAŞKAYA İ. F., PUSANE A. E., DÜNDAR G.

2018 IEEE 21st International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits Systems (DDECS), Budapest, Macaristan, 25 - 27 Nisan 2018, (Tam Metin Bildiri) identifier

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Doi Numarası: 10.1109/ddecs.2018.00013
  • Basıldığı Şehir: Budapest
  • Basıldığı Ülke: Macaristan
  • Kocaeli Üniversitesi Adresli: Evet